| 초록 |
본 발명은 구성 요소(2)의 비파괴 시험을 위한 디바이스이며, 본체(1), 본체(1) 상에 유지된 복수의 시험 프로브들(5), 본체(1) 상에 유지되는 적어도 2개의 변위 지시기 디바이스들(9)로서, 각각의 변위 지시기 디바이스(9)는, 본체(1) 상에 이동 가능하게 유지된 변위 감지 요소(10)를 갖고, 각각의 변위 지시기 디바이스(9)는 그 변위 감지 요소(10)가 본체(1)에 대해 이동되는 것에 응답하여 이동 신호(15, 18)를 출력하도록 설계되고, 이 이동 신호는 본체(1)에 대한 변위 감지 요소(10)의 이동의 순간 속도에 대한 정보를 포함하거나 또는 이 이동 신호로부터 이러한 속도가 유도될 수 있는, 적어도 2개의 변위 지시기 디바이스들(9), 및 변위 지시기 디바이스들(9)에 연결되고 동작 중에 변위 지시기 디바이스(9)로부터 이동 신호를 수신하고, 어느 변위 지시기 디바이스(9)가 가장 빠르게 이동하는 변위 감지 요소(10)를 갖는지를 결정하고, 특히 가장 빠르게 이동하는 변위 감지 요소(10)를 갖는 변위 지시기 디바이스(9)의 이동 신호(15, 18)를 출력하도록 설계되고 구성되는 변위 지시기 평가 유닛(12)을 포함하는 디바이스에 관한 것이다.본 발명은 또한 구성 요소(2)의 비파괴 시험을 위한 방법에 관한 것이다. |
