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부식 환경 모니터 장치 및 그 방법

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기관명	NDSL
출원인	가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼
출원번호	10-2014-7004177
출원일자	2014-02-18
공개번호	20140502
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	본 발명의 과제는, 주위 환경의 부식성을 간편하면서도 단기간에 정밀도 좋게 평가할 수 있는 부식 환경 모니터 장치 및 그 방법을 제공하는 데에 있다. 본 발명에 관련된 부식 환경 모니터 장치는, 시험편(2a, 2b, 2c)이 설치되는 하나 이상의 통기로(3a, 3b, 3c)를 갖고, 주위 환경 중의 부식성을 시험편(2a, 2b, 2c)의 부식 상태로부터 측정하는 부식 환경 모니터 장치(1)로서, 하나의 통기로(3a, 3b, 3c) 내에, 측정에 관련된 영역이 동일한 금속재료를 이용하여 형성되는 시험편(2a, 2b, 2c)을 설치하고, 통기로(3a, 3b, 3c)가 복수인 경우, 통기로(3a, 3b, 3c)를 병렬로 배치하고 있다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020147004177
첨부파일

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