| 초록 |
본 발명은 차량 전자제어장치의 입력 및 IC 통합 테스트를 위한 디지털 회로 테스트 시스템 및 그 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예에 따른 디지털 회로 테스트 시스템은, 마이크로프로세서(Micro Processor)와 상기 마이크로프로세서의 디지털 포트, 상기 마이크로프로세서에 연결된 HLSD(High/Low Side Driver) IC 및 워치독 IC(Watchdog Integrated Circuit)를 구비하는 디지털 회로 테스트 시스템에 있어서, 상기 마이크로 프로세서는 상기 HLSD IC에 인에이블 신호를 인가하도록 상기 워치독 IC를 제어하고, 상기 HLSD IC가 충전(High) 또는 방전(Low) 중 어느 하나의 모드로 동작하도록 제어한다.상기 HLSD IC의 기능 테스트를 시작하기 전에는 상기 워치독 IC를 오프(off)시키고, 테스트 시간이 최대 10ms가 넘지 않도록 설정하고, 상기 HLSD IC의 기능 테스트 실행 중에는 상기 워치독 IC를 오프(off)시키고, 상기 기능 테스트가 종료되면 상기 워치독 IC를 온(on)시켜 상기 워치독 IC의 에러 카운트를 0으로 리셋 시킨다. |
