| 초록 |
반도체 디바이스의 시험을 수행하는 것이 가능한 자동화된 시험 장비(Automated Test Equipment: ATE)가 제시된다. ATE는 시험기 프로세서에 통신가능하게 연결된 시스템 제어기를 포함하는 컴퓨터 시스템을 포함한다. 시스템 제어기는 프로세서에 명령어를 송신하도록 동작가능하며, 프로세서는 복수의 피시험 디바이스(Device Under Test: DUT)들의 시험을 조정하기 위해 명령어로부터 커맨드 및 데이터를 생성하도록 동작가능하다. ATE는 버스를 통하여 프로세서에 통신가능하게 연결된 복수의 FPGA 컴포넌트를 더 포함한다. FPGA 컴포넌트 각각은 DUT들 중 하나의 DUT를 시험하기 위해 프로세서로부터 투명하게 커맨드 및 데이터를 내부적으로 생성하도록 동작가능한 적어도 하나의 하드웨어 가속기 회로를 포함한다. 추가적으로, 시험기 프로세서는 여러 기능 모드들 중 하나에서 동작하도록 구성되는데, 기능 모드들은 프로세서 및 FPGA 컴포넌트 간에 커맨드 및 데이터를 생성하기 위한 기능을 할당하도록 구성된다. |
