새로운 불량 블록 검출
기관명 | NDSL |
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출원인 | 마이크론 테크놀로지, 인크. |
출원번호 | 10-2014-7030099 |
출원일자 | 2014-10-27 |
공개번호 | 20141218 |
공개일자 | 2015-10-06 |
등록번호 | 10-1557736-0000 |
등록일자 | 2015-09-30 |
권리구분 | KPTN |
초록 | NAND 플래시와 같은 비휘발성 집적 회로 메모리 디바이스(106)로부터 데이터를 판독하는 장치 및 방법에 관한 것이다.예컨대, 개시된 기술은 오퍼레이팅 시스템(104)의 디바이스 드라이버(110)로 구현될 수 있다.판독 동작 동안에 에러가 추적된다.판독 동작 동안에 충분한 에러가 관측되면(204), 그 블록은 소거가 요구되거나 블록의 페이지에 대한 기입이 요구될 때 폐기된다(210, 212, 214, 310).일 실시예는 정정할 수 없는 에러로부터 데이터를 복구하는 기술이다.예컨대, 판독 모드는 데이터 복구를 시도하는 더욱 신뢰성 있는 판독 모드로 변경될 수 있다(410).일 실시예는 또한 에러 정정 코드 데이터의 디코딩에 의해 데이터가 정정 가능한지의 여부(430)에 상관없이 메모리 디바이스로부터 데이터를 리턴시킨다(106). |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020147030099 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G06F-011/00,G06F-011/08,G06F-011/10 |
주제어 (키워드) |