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특허/실용신안

새로운 불량 블록 검출

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 마이크론 테크놀로지, 인크.
출원번호 10-2014-7030099
출원일자 2014-10-27
공개번호 20141218
공개일자 2015-10-06
등록번호 10-1557736-0000
등록일자 2015-09-30
권리구분 KPTN
초록 NAND 플래시와 같은 비휘발성 집적 회로 메모리 디바이스(106)로부터 데이터를 판독하는 장치 및 방법에 관한 것이다.예컨대, 개시된 기술은 오퍼레이팅 시스템(104)의 디바이스 드라이버(110)로 구현될 수 있다.판독 동작 동안에 에러가 추적된다.판독 동작 동안에 충분한 에러가 관측되면(204), 그 블록은 소거가 요구되거나 블록의 페이지에 대한 기입이 요구될 때 폐기된다(210, 212, 214, 310).일 실시예는 정정할 수 없는 에러로부터 데이터를 복구하는 기술이다.예컨대, 판독 모드는 데이터 복구를 시도하는 더욱 신뢰성 있는 판독 모드로 변경될 수 있다(410).일 실시예는 또한 에러 정정 코드 데이터의 디코딩에 의해 데이터가 정정 가능한지의 여부(430)에 상관없이 메모리 디바이스로부터 데이터를 리턴시킨다(106).
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020147030099
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G06F-011/00,G06F-011/08,G06F-011/10
주제어 (키워드)