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특허/실용신안

소형 정밀기계부품 3차원 검사 시스템 및 검사방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 (주)에스에이테크
출원번호 10-2015-0158397
출원일자 2015-11-11
공개번호 20160808
공개일자 2016-08-03
등록번호 10-1644815-0000
등록일자 2016-07-27
권리구분 KPTN
초록 본 발명은 소형 정밀기계부품의 전수검사를 하는 3차원 측정장비를 이용하는 검사시스템에 있어서, 가공된 소형 정밀기계부품이 투입되는 투입구를 포함해서, 일측에 구비된 제어모터를 동력원으로해서, 회전속도 및회전각도가 제어되고, 투입된 측정물을 단계별 검사장치로 이송시키는 측정물 이송원판(100)과; 상기 측정물 이송원판(100)의 일측에 구비되고, 측정물의 외관을 촬영하여, 측정물의 외관의 스크레치 및 찍힘 불량여부를 디스플레이하고 판정하는 외관검사부(200)와; 상기 외관검사부(200)의 검사를 통과한 측정물에 대해서, 측정물의 회전동작을 카메라로 촬영하여, 측정물의 내경치수와 외경의 동심도를 검사하는 내경 및 동심도 검사부(300)와; 상기 내경 및 동심도 검사부(300)의 검사를 통과한 측정물에 대해서, 외경의 연마부에 대해서 측정물의 회전동작을 카메라로 촬영하여, 연마부의 치수를 검사하는 연마부 검사부(400)와; 상기 외관검사부(200), 내경 및 동심도 검사부(300) 그리고 연마부 검사부(400)의 검사에서 합격된 측정물은 양품으로 선별하여 이송하는 양품분류부(500)와; 상기 외관검사부(200), 내경 및 동심도 검사부(300) 그리고 연마부 검사부(400) 어느 하나에서 불합격된 측정물은 불량품으로 선별하여 이송하는 불량품분류부(600);를 포함하여 구성되는 소형 정밀기계부품 3차원 검사 시스템에 관한 것이다. 본 발명에 따른 소형 정밀기계부품 3차원 검사 시스템에 의할 때, 하나의 검사 플랫폼에서 소형 정밀 기계부품류의 다양한 검사항목들의 표준화를 통해 양품/불량품을 판별할 수 있는 자동 전수검사 시스템을 제공하는 것이 가능하다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020150158397
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01B-011/00,G01B-011/12,G01B-011/24,G01B-011/30,G01N-021/88
주제어 (키워드)