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특허/실용신안

머신 비전을 사용하여 좁은 오목 특징부를 측정하는 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드
출원번호 10-2015-7032345
출원일자 2015-11-11
공개번호 20160128
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 촬상기(70)를 포함하고 광원(76)으로부터의 집속된 방향성 발광을 갭(20) 내로 제공하는 모듈(42)에 의해 피검체(26)의 측벽(32, 36) 사이의 깊고 좁은 갭(20)이 측정될 수 있다. 촬상기(70)는 행 및 열을 따르는 픽셀의 어레이를 갖는 카메라를 채용할 수 있다. 갭(20)의 장축(46)에 평행한 행 또는 열을 따르는 픽셀에 의해 포착된 그레이 스케일은 갭(20)의 에지(34, 38) 사이의 간격의 결정을 용이하게 하기 위해 분석될 수 있다. 장축(46)을 따르는 촬상기(76)와 피검체(26) 사이의 상대적 이동은 또한 갭(20)의 에지(34, 38) 사이의 간격의 결정을 용이하게 할 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157032345
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01B-011/14,G01B-011/02,G01J-003/46,G06T-007/00
주제어 (키워드)