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특허/실용신안

OLED 스택 필름의 품질 평가

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 카티바, 인크.
출원번호 10-2015-7025541
출원일자 2015-09-17
공개번호 20151029
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 본 발명은 유기 발광 다이오드('OLED') 장치의 증착된 필름 층의 품질을 평가하기 위한 기술을 제공한다. 이미지가 캡처되고 필터링되어서, 분석될 증착된 층을 식별한다. 이 층을 나타내는 이미지 데이터는 옵션으로 밝기(그레이스케일) 데이터로 전환될 수 있다. 그리고 나서, 그래디언트 함수가 적용되어, 증착된 층 내의 불연속성을 강조한다. 그리고 나서, 불연속성은 하나 이상의 스레숄드와 비교되어, 증착된 층의 품질을 확인하고, 옵션적인 치유책이 적용된다. 개시된 기술은 제자리에서 적용될 수 있어서, 뒤이은 제조 단계가 적용되기 이전에, 층간 박리와 같은 잠재적인 결함을 빠르게 식별할 수 있다. 옵션적인 실시예에서, 치유책은 결함이 존재하는지 여부에 따라 달라질 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157025541
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE H01L-051/00,G06T-007/00,H01L-051/56
주제어 (키워드)