기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

특허/실용신안

미분 위상 대조 X선 이미징 시스템 및 컴포넌트

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 더 존스 홉킨스 유니버시티
출원번호 10-2014-7005431
출원일자 2014-02-28
공개번호 20140515
공개일자 2015-01-14
등록번호 10-1482699-0000
등록일자 2015-01-08
권리구분 KPTN
초록 미분 위상 대조 X선 이미징 시스템은 X선 일루미네이션 시스템, 상기 X선 일루미네이션 시스템의 광학 패스에 배치된 빔 스플리터, 및 상기 빔 스플리터를 통해서 통과한 X선을 검출하기 위해 광학 패스에 배치되는 검출 시스템을 포함한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020147005431
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-023/04,A61B-006/00
주제어 (키워드)