머신 비전을 사용하여 좁은 오목 특징부를 측정하는 방법
기관명 | NDSL |
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출원인 | 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 |
출원번호 | 10-2015-7032345 |
출원일자 | 2015-11-11 |
공개번호 | 20160128 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 촬상기(70)를 포함하고 광원(76)으로부터의 집속된 방향성 발광을 갭(20) 내로 제공하는 모듈(42)에 의해 피검체(26)의 측벽(32, 36) 사이의 깊고 좁은 갭(20)이 측정될 수 있다. 촬상기(70)는 행 및 열을 따르는 픽셀의 어레이를 갖는 카메라를 채용할 수 있다. 갭(20)의 장축(46)에 평행한 행 또는 열을 따르는 픽셀에 의해 포착된 그레이 스케일은 갭(20)의 에지(34, 38) 사이의 간격의 결정을 용이하게 하기 위해 분석될 수 있다. 장축(46)을 따르는 촬상기(76)와 피검체(26) 사이의 상대적 이동은 또한 갭(20)의 에지(34, 38) 사이의 간격의 결정을 용이하게 할 수 있다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157032345 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G01B-011/14,G01B-011/02,G01J-003/46,G06T-007/00 |
주제어 (키워드) |