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특허/실용신안

표면 거칠기 측정 장치

특허 실용신안 개요

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기관명 NDSL
출원인 제너럴 일렉트릭 캄파니
출원번호 10-2015-7033119
출원일자 2015-11-19
공개번호 20160114
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 일 실시형태에서 주 및 보조 방사 섬유, 복수의 수집 섬유, 광학 하우징, 주 및 보조 반사경, 및 외부 회로를 포함한 표면 거칠기 측정 장치가 개시된다. 광학 하우징은 섬유들을 포함하고, 물체의 표면에 광학적으로 접촉하기 위한 개구를 규정한다. 주 반사경은 광학 하우징 내에 배열되고, 주 방사 섬유로부터 방사된 광을 상기 개구의 검출점에 반사하고 물체에 의한 반사광을 수집 섬유에 반사하기 위한 것이다. 보조 반사경은 광학 하우징 내에 배열되고, 보조 방사 섬유로부터 방사된 광을 상기 검출점에 반사하기 위한 것이다. 외부 회로는 주 및 보조 방사 섬유에 대하여 레이저 빔을 발생시키고, 수집 섬유로부터의 반사광을 수집하며, 수집된 반사광에 기초하여 물체의 표면 거칠기를 계산하기 위한 것이다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157033119
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01B-011/30,G01B-011/24
주제어 (키워드)