표면 거칠기 측정 장치
기관명 | NDSL |
---|---|
출원인 | 제너럴 일렉트릭 캄파니 |
출원번호 | 10-2015-7033119 |
출원일자 | 2015-11-19 |
공개번호 | 20160114 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 일 실시형태에서 주 및 보조 방사 섬유, 복수의 수집 섬유, 광학 하우징, 주 및 보조 반사경, 및 외부 회로를 포함한 표면 거칠기 측정 장치가 개시된다. 광학 하우징은 섬유들을 포함하고, 물체의 표면에 광학적으로 접촉하기 위한 개구를 규정한다. 주 반사경은 광학 하우징 내에 배열되고, 주 방사 섬유로부터 방사된 광을 상기 개구의 검출점에 반사하고 물체에 의한 반사광을 수집 섬유에 반사하기 위한 것이다. 보조 반사경은 광학 하우징 내에 배열되고, 보조 방사 섬유로부터 방사된 광을 상기 검출점에 반사하기 위한 것이다. 외부 회로는 주 및 보조 방사 섬유에 대하여 레이저 빔을 발생시키고, 수집 섬유로부터의 반사광을 수집하며, 수집된 반사광에 기초하여 물체의 표면 거칠기를 계산하기 위한 것이다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157033119 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
---|---|
ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G01B-011/30,G01B-011/24 |
주제어 (키워드) |