감활성광선성 또는 감방사선성 수지 조성물, 감활성광선성 또는 감방사선성막, 감활성광선성 또는 감방사선성막을 구비한 마스크 블랭크, 포토마스크, 패턴 형성 방법, 전자 디바이스의 제조 방법, 전자 디바이스, 화합물, 및 화합물의 제조 방법
기관명 | NDSL |
---|---|
출원인 | 후지필름 가부시키가이샤 |
출원번호 | 10-2016-7015190 |
출원일자 | 2016-06-08 |
공개번호 | 20160714 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 초미세 패턴(예를 들면, 선폭 50nm 이하)의 형성에 있어서, PEB 온도에 의존한 패턴의 선폭 변동을 억제할 수 있고, 또한 보존 안정성도 우수한 감활성광선성 또는 감방사선성 수지 조성물 등을 제공한다. 이 조성물은, 알칼리 가용성 수지, 및 가교제를 포함하고, 상기 가교제가 하기 일반식 (I)로 나타난다.(식 중, R 1 및 R 6 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 또는 탄소수 5 이하의 탄화 수소기를 나타낸다. R 2 및 R 5 는, 각각 독립적으로, 알킬기, 사이클로알킬기, 아릴기, 또는 아실기를 나타낸다. R 3 및 R 4 는, 각각 독립적으로, 수소 원자, 또는 탄소수 2 이상의 유기기를 나타낸다. R 3 및 R 4 는, 서로 결합하여 환을 형성해도 된다.) [화학식 1] |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167015190 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
---|---|
ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G03F-007/004,C07C-041/09,C07C-041/22,C07C-043/23,C08F-016/08,G03F-001/22,G03F-001/50,G03F-007/20,G03 |
주제어 (키워드) |