리소그라피 및 기타 용도에서 극자외방사선과 함께 사용하기 위한 재료, 구성요소 및 방법
기관명 | NDSL |
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출원인 | 자이스왈, 수프리야 |
출원번호 | 10-2017-7017466 |
출원일자 | 2017-06-23 |
공개번호 | 20180104 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 자외선(UV), 극자외선(EUV) 및/또는 연 X-선 파장에서 동작하는 장치 및 시스템에서 사용하기 위한 나노 구조화된 포토닉 재료, 및 관련된 구성 요소가 기술된다. 그러한 재료는 특정 UV, EUV 또는 소프트 X-선 파장 또는 파장 범위와 같은 선택된 파장 범위에 맞게 조정된 나노 스케일 피처로 제조될 수 있다. 그러한 재료는 리소그래피, 웨이퍼 패터닝, 천문학 및 우주 응용, 생체 의학 응용, 생명 공학 또는 기타 응용과 같은 응용분야에서 사용하기 위해 미러, 렌즈 또는 기타 광학, 패널, 광원, 마스크, 포토레지스트 또는 기타 구성 요소와 같은 구성 요소를 만드는 데 사용될 수 있다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020177017466 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G02B-001/115,G02B-005/08,G02B-005/20 |
주제어 (키워드) |