AFM과 탐침형 센서를 이용한 세포독성의 정량적 평가시스템 및 방법
기관명 | NDSL |
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출원인 | 경희대학교 산학협력단 |
출원번호 | 10-2013-0012579 |
출원일자 | 2013-02-04 |
공개번호 | 20140814 |
공개일자 | 2014-10-31 |
등록번호 | 10-1455244-0000 |
등록일자 | 2014-10-21 |
권리구분 | KPTN |
초록 | 본 발명은 원자력 현미경(atomic force microscopy; AFM); 및 탐침형 센서를 포함하는 세포독성의 정량적 평가 시스템 및 (a) 원자력 현미경을 이용하여 세포의 탄성(elasticity) 또는 세포표면의 거칠기(roughness)를 측정하는 단계; 및 (b) 탐침형 센서를 이용하여 세포분비물질 또는 세포소모물질의 농도 변화의 농도를 시간에 따라 모니터링하는 단계를 포함하는 것인 세포독성의 정량적 평가 방법에 관한 것이다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020130012579 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G01Q-060/24,G01N-033/483 |
주제어 (키워드) |