| 기업공감원스톱서비스

파장-편이 섬유-결합 신틸레이션 검출기를 사용한 X-선 검사

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명	NDSL
출원인	아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크.
출원번호	10-2020-7011502
출원일자	2020-04-21
공개번호	20200506
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	본 발명은 광 검출기 신호의 시간적 적분에 의해, 파장-편이 광섬유에 의해 하나 이상의 광 검출기에 결합된 신틸레이터에 기초하여 물질을 검사하기 위해 검출기 및 방법에 관한 것이다.신틸레이션 매체의 픽셀화되지 않은 체적이 입사하는 투과 방사선의 에너지를 복수의 광학 도파관에 의해, 신틸레이션 광 추출 영역으로부터 추출되는 신틸레이션 광으로 변환한다.이러한 기하학적 특징은 지금까지는 입사 방사선의 후방 산란 검출 및 에너지 분별을 위해 획득 불가능한 기하학적 특징을 가능케 하는, 효율적이며 콤팩트한 검출기를 제공한다.추가의 에너지 분해 투과 구성이 왜곡 및 오정렬 보상으로서 가능해 진다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020207011502
첨부파일

기업조회