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특허/실용신안

멀티 하전 입자빔 묘화 방법 및 멀티 하전 입자빔 묘화 장치

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 가부시키가이샤 뉴플레어 테크놀로지
출원번호 10-2014-0069282
출원일자 2014-06-09
공개번호 20141226
공개일자 2016-02-26
등록번호 10-1595787-0000
등록일자 2016-02-15
권리구분 KPTN
초록 본 발명의 일태양의 멀티 하전 입자빔 묘화 방법은, 빔의 샷마다, 하전 입자빔에 의한 멀티빔의 각 빔의 조사 시간을 양자화 단위로 나눈 계조치를 미리 설정된 자릿수의 2 진수 데이터로 변환하고, 빔의 1 샷당 최대 조사 시간이, 상술한 자릿수의 2 진수의 각 자리의 값을 각각 10 진수로 정의했을 경우에 상당하는 계조치에 양자화 단위를 곱한 조사 시간으로서 이러한 자릿수 개의 복수의 제1 조사 시간으로 분할되고, 복수의 제1 조사 시간의 일부의 제2 조사 시간이 복수의 제3 조사 시간으로 더 분할된, 복수의 제3 조사 시간으로 분할되지 않은 나머지 복수의 제1 조사 시간을 이용하여, 빔의 샷마다, 당해 빔의 조사를 복수의 제3 조사 시간의 각 조사 단계와 분할되지 않은 나머지 복수의 제1 조사 시간의 각 조사 단계로 분할하고, 적어도 2 개의 조사 시간에 의한 조사 단계의 조합에 의해 구성되는 복수의 그룹이 차례로 계속되도록, 그룹마다 당해 그룹을 구성하는 각 조사 단계의 조사 시간의 빔을 차례로 시료에 조사하는 것을 특징으로 한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020140069282
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE H01L-021/027,G03F-007/20,H01L-021/263
주제어 (키워드)