반도체 장치의 제작 방법
기관명 | NDSL |
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출원인 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
출원번호 | 10-2016-0036170 |
출원일자 | 2016-03-25 |
공개번호 | 20160414 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 소스 전극층 및 드레인 전극층 표면에 산화물이나 오염물의 피막(皮膜)이 생긴 채로, 그 위에 산화물 반도체층을 형성하면, 소스 전극층 또는 드레인 전극층과 산화물 반도체막의 접촉면에 전기적으로 고저항의 계면이 형성되어, 반도체 소자의 온 전류가 억제된다. 소스 전극층 및 드레인 전극층의 표면을 플라즈마에 의하여 스퍼터링 처리하여, 상기 소스 전극층 및 드레인 전극층을 대기에 노출시키지 않고, 상기 소스 전극층 및 드레인 전극층 위에 연속적으로 In, Ga, 및 Zn를 포함하는 산화물 반도체층이 형성된다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020160036170 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | H01L-029/786,H01L-021/02,H01L-021/203,H01L-021/66,H01L-027/12,H01L-027/30,H01L-029/45 |
주제어 (키워드) |