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특허/실용신안

광학적 계측을 위한 자동 파장 또는 각도 프루닝

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 ,
출원번호 10-2015-7036984
출원일자 2015-12-29
공개번호 20160218
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 광학적 계측을 위한 자동 파장 또는 각도 프루닝이 설명된다. 광학적 계측을 위한 자동 파장 또는 각도 프루닝을 위한 방법의 일 실시예는, 복수의 파라미터들을 포함하는 구조체의 모델을 결정하는 단계; 모델에 대한 파장-의존 또는 각도-의존 데이터의 데이터세트를 설계하고 연산하는 단계; 데이터세트를 컴퓨터 메모리에 저장하는 단계; 데이터세트에 이상점 검출 기술을 적용하는 단계와, 각각의 데이터 이상점이 각도 또는 파장인 임의의 데이터 이상점들을 식별하는 단계를 포함하는, 모델에 대한 데이터세트의 분석을 프로세서를 이용하여 수행하는 단계; 및, 모델의 데이터세트의 분석에서 임의의 데이터 이상점들이 식별되는 경우, 수정된 데이터세트를 생성하기 위하여 데이터 이상점들에 대응하는 파장들 또는 각도들을 데이터세트로부터 제거하고 수정된 데이터세트를 컴퓨터 메모리에 저장하는 단계를 포함한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157036984
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G03F-007/20,G03F-001/44
주제어 (키워드)