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특허/실용신안
미소렌즈 배열의 구성방법 및 이를 이용하여 성능이 향상된 파면측정기
특허 실용신안 개요
| 기관명 | NDSL |
|---|---|
| 출원인 | 한국 천문 연구원 |
| 출원번호 | 10-2015-0167909 |
| 출원일자 | 2015-11-27 |
| 공개번호 | 20160204 |
| 공개일자 | 2016-02-02 |
| 등록번호 | 10-1590814-0000 |
| 등록일자 | 2016-01-27 |
| 권리구분 | KPTN |
| 초록 | 본 발명은 빛의 파면 왜곡을 측정하기 위한 파면측정기에 관한 것으로, 본 발명에 따르면, 측정 정밀도와 파면측정 범위가 반비례함으로 인해 넓은 파면 측정범위가 요구되는 경우에는 측정 정밀도의 손실을 감수하면서 짧은 초점거리의 미소렌즈를 사용해야 하고, 높은 측정 정밀도가 요구되는 경우에는 파면 측정범위가 좁아지는 긴 초점거리의 미소렌즈를 사용해야 하는 한계가 있는 데 더하여, 미소렌즈 배열을 구성하는 미소렌즈의 개수에 의해 공간해상도가 결정됨으로 인해 기존의 레이저 간섭계에 비해 공간해상도가 매우 낮은 단점을 가지는 종래기술의 파면측정기들의 문제점을 해결하기 위해, 높은 측정 정밀도와 넓은 측정범위를 동시에 확보하여 측정 정밀도와 측정범위 사이의 반비례 관계에서 발생하는 상호 절충에 대한 고려가 필요 없는 동시에, 파면측정기의 공간해상도를 높일 수 있도록 구성되는 새로운 구조의 미소렌즈 배열의 구성방법 및 이를 이용하여 성능이 향상된 파면측정기가 제공된다. |
| 원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020150167909 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| IPC분류체계CODE | G01J-009/00,G02B-003/00 |
| 주제어 (키워드) |