III-V족 재료 능동 영역과 그레이딩된 게이트 유전체를 갖는 반도체 디바이스
기관명 | NDSL |
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출원인 | 인텔 코포레이션 |
출원번호 | 10-2016-7004549 |
출원일자 | 2016-02-22 |
공개번호 | 20160603 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | III-V족 재료 능동 영역과 그레이딩된 게이트 유전체를 갖는 반도체 디바이스와 그러한 디바이스를 제조하는 방법이 기술된다.예에서, 반도체 디바이스는 기판 상에 배치된 III-V족 재료 채널 영역을 포함한다.게이트 스택은 III-V족 재료 채널 영역 상에 배치된다.게이트 스택은 III-V족 재료 채널 영역과 게이트 전극 간에 직접 배치되는 그레이딩된 고유전율(high-k) 게이트 유전체층을 포함한다.그레이딩된 고유전율 게이트 유전체층은 III-V족 재료 채널 영역 근방에서는 낮은 유전 상수를 가지고 게이트 전극 근방에서는 높은 유전 상수를 갖는다.소스/드레인 영역들은 게이트 스택의 양측에 배치된다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167004549 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | H01L-029/51,H01L-029/06,H01L-029/423,H01L-029/66,H01L-029/775,B82Y-010/00,B82Y-040/00 |
주제어 (키워드) |