반도체 디바이스 및 그 제조 방법
기관명 | NDSL |
---|---|
출원인 | 후아웨이 테크놀러지 컴퍼니 리미티드 |
출원번호 | 10-2016-7017473 |
출원일자 | 2016-06-29 |
공개번호 | 20160728 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 반도체 디바이스 및 반도체 디바이스 제조 방법이 개시된다. 상기 반도체 디바이스는 제1 실리콘층(110; 210); 상기 제1 실리콘층(110; 210) 상에 위치하고, 윈도(121; 221)를 포함하며, 상기 윈도의 바닥부 수평 사이즈는 20mm를 초과하지 않는, 제1 유전체층(120; 220); 및 상기 제1 유전체층(120; 220) 상에, 그리고 상기 제1 유전체층(120; 220)의 윈도(121; 221) 내에 위치하고, 제1 유전체층(120; 220)의 윈도(121; 221) 내의 상기 제1 실리콘층(110; 210)에 연결되는 III-V 반도체층(130; 230)을 포함한다. 반도체 디바이스의 III-V 반도체층은 관통 전위(threading dislocation)가 없으므로, 성능이 비교적 높다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167017473 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
---|---|
ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | H01L-021/02,H01L-033/00,H01S-005/00 |
주제어 (키워드) |