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네펠로메트릭 탁도계 및 네펠로메트릭 탁도계의 시료 큐벳의 오염을 탐지하기 위한 방법

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기관명	NDSL
출원인	하흐 랑에 게엠베하
출원번호	10-2016-7008337
출원일자	2016-03-29
공개번호	20160707
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	본 발명은 시료 큐벳(40) 내의 액체 시료(49)의 탁도를 측정하기 위한 네펠로메트릭 탁도계(10)에 관한 것이다. 상기 탁도계(10)는: 큐벳(40)으로 지향되는 축방향 평행 광빔(60)을 방출하기 위한 측정 광원(20); 큐벳(40)으로부터 비축방향으로 나오는 산란광(66)을 받기 위해 배치되는 산란광 검출기(30); 그리고 광학적 디퓨저 바디(52) 및 디퓨저 바디(52)가 방출된 광빔(60)을 간섭하지 않는 파킹 위치와 디퓨저 바디(52')가 방출된 광빔(60)을 간섭하여 큐벳(40)에 진입하는 분산 테스트 광(63)을 생성하는 광원(20)과 큐벳(40) 사이의 테스트 위치 사이에서 디퓨저 바디(52, 52')를 이동시키기 위한 디퓨저 액추에이터(54)를 갖는 전환 가능한 디퓨저(50)를 포함하는 것을 특징으로 하는 네펠로메트릭 탁도계(10).
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167008337
첨부파일

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