초박형 불연속 금속 층을 갖는 전기화학-기반 분석 검사 스트립
기관명 | NDSL |
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출원인 | 시락 게엠베하 인터내셔날 |
출원번호 | 10-2016-7008912 |
출원일자 | 2016-04-05 |
공개번호 | 20160519 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 체액 샘플 내의 분석물(예컨대, 포도당)의 판정을 위한 전기화학-기반 분석 검사 스트립은 전기 절연 베이스 층, 전기 절연 베이스 층 상에 배치되고 적어도 하나의 전극을 포함하는 제1 전기 전도성 층, 적어도 하나의 전극 상에 배치된 효소 시약 층, 패턴화된 스페이서 층 및 상부 층을 포함한다.전기화학-기반 분석 검사 스트립은 또한, 제1 전기 전도성 층과 상부 층 사이에 배치되며 공칭 두께가 10 나노미터 미만인 초박형 불연속 금속 층을 포함한다.게다가, 적어도 패턴화된 스페이서 층은 적어도 하나의 전극을 포함하는 샘플-수용 챔버를 형성하고, 초박형 불연속 금속 층은 적어도 샘플-수용 챔버 내부에 배치된다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167008912 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G01N-027/327,G01N-027/30,G01N-033/48 |
주제어 (키워드) |